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產品綜（zōng）述
Ceyear 3674係列矢量（liàng）網絡分析儀是技術創新的巔峰之作，可以輕鬆應對（duì）半導體芯片測試、材料測試（shì）、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來（lái）的嚴峻挑戰。出色的射（shè）頻（pín）特性、靈活（huó）的硬件配置和豐富的軟件功能相輔（fǔ）相成，隻需一次連接（jiē）即（jí）可完成多種測量任務。創新的人機交互設計可（kě）幫助您（nín）快速便捷（jié）地（dì）完成所需的測量設置，超大觸摸屏為（wéi）您帶來靈活、高效（xiào）的操作體驗。
功能特點
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脈衝S參數測（cè）量
內置4路脈衝發生（shēng）器，用於內部源調（diào）製、中頻門控（kòng）製（zhì），並從後麵板輸出。每路脈衝發生器的脈寬和延時獨立可設。
源調製來（lái）源包括後麵板輸入、內部脈衝發生器和常開、常閉等多種狀態，既可利用外部脈衝對矢量網絡（luò）分析儀的源進行調製，也可以使其處於連續波（bō）狀態，通過觸（chù）發同步模式進（jìn）行測量，為T/R組件、天線收發模塊（kuài）等測試（shì）提供有（yǒu）力支撐。
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混頻器/變頻器（qì）標量測量分析
提供完善的混頻器/變頻器（qì）特性設置（zhì），支持雙階本振、外（wài）部本振源輸（shū）入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡（jiǎn）單（dān）設置可自動完（wán）成複雜（zá）混頻器RF、雙（shuāng）LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支（zhī）持源端（duān）口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性（xìng）設置等。
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混（hún）頻器/變頻（pín）器矢量（liàng）測量分析
提供完整的混頻器/變頻器（qì）幅度響應、絕（jué）對相位及絕對時延響應測量能（néng）力。校準過程中引入雙混頻器實（shí）現參考通路變頻與校（xiào）準通路的變頻。引入（rù）的雙混頻器（qì）要求與被測件的變頻特性一致，且校準混頻器要求變頻特性互易。
單次連接即可完成混頻（pín）器/變頻器複數特（tè）性測量，幅度（dù）和相位測量精（jīng）度高。
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增益壓縮測量
增益（yì）壓縮測量功能能夠通（tōng）過一次連接、一次校準完成有源器件在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹（pǐ）配等壓縮參數測（cè）量（liàng）。
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增益壓縮掃描三維圖繪製
提供三維視圖功能，更好地展示被測（cè）件（jiàn）在激勵狀態下的工作性能，另外還可以展示頻率切麵和（hé）功率切麵，可（kě）以直觀展現被測（cè）件在每個頻（pín）率點和每個（gè）功率點的特性（xìng）。
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噪聲係數測量
一次（cì）連接，可同時測試S參數、噪聲係數、噪聲參數、增益壓縮和變頻增益等（děng）多種參數。基於冷源噪聲係數（shù）測試（shì）方法，可（kě）進行精確的（de）噪聲係數和噪聲參數測試。通過構建先進的噪聲相關矩陣模型，結合矢（shǐ）量網絡分析儀精密的S參數校準，適用（yòng）於較（jiào）小噪聲係數被測件的精確測試。測量動態（tài）範（fàn）圍最大可（kě）達55dB，適用於較大增益被測件的測試。
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頻譜測量分析
矢量網絡分析儀的每個端口都可以完成被測（cè）件的輸入譜和輸出譜的測量，可在小的分辨率帶寬下（xià）快速地定（dìng）位被測件雜（zá）散譜和諧波的狀態。
針對有源器件的測試，頻（pín）譜測量功能可提供更多的測量參數，單台儀器通過單次連接可實現常（cháng）規的S參數測（cè）試、雜散和諧波（bō）的定位測（cè）量；完備的比值和絕對測量誤（wù）差修正技術（shù）可提供更準確的測量結果。
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信號（hào）完整性測量（liàng）分析
具備強大的信號完整性測量分析能力，可提供（gòng）微米級的空間分（fèn）辨率。單一視圖（tú）同時完成時域和頻域測試分析，可以精（jīng）準測試傳輸線上阻抗特性（xìng）的變化情況；便捷的近端與遠（yuǎn）端串擾測試，用於（yú）測試多條（tiáo）傳輸線之間相互影響的程度。
高（gāo）級時域分（fèn）析（xī）選件具備基於（yú）網（wǎng）絡參數的虛擬眼（yǎn）圖生成及（jí）分析功能（néng）。根據（jù）不同的高速數（shù）字通信（xìn）標準，高（gāo）級時域分析選件可以使用預先（xiān）定義好的眼圖模（mó）板進（jìn）行高效率（lǜ）Pass/Fail測試。
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總諧波失真（THD）測量分析
寬頻帶（dài）測試，可用於真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總（zǒng）失真等參（cān）數的分析，簡化差分器件的諧波（bō）性能測試複雜（zá）度。
單次校準（zhǔn）同（tóng）時完成多通道的（de）誤差修正，設置和測量（liàng）參數的編（biān）輯（jí）可通過XML文件的方（fāng）式進行，一鍵（jiàn）實（shí）現參數導入。
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自動夾具移除
對於非標準接頭器件測試，如封裝微波器件、在片器（qì）件（jiàn）等，此類器件無法與矢量網絡分（fèn）析儀直接相連。通常使（shǐ）用夾具將被測件連接到矢量網絡分析儀上，但同時夾具也引入了測（cè）量誤（wù）差。自動夾具移除功（gōng）能可以（yǐ）進行（háng）夾具參數的提取、存儲以及夾（jiá）具去嵌入，最終獲得被測件的真實參數（shù）。
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極（jí）致的用（yòng）戶體驗
界麵簡潔直觀，便於操作，提高測試效率
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外設接口豐富，靈活實（shí）用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振（zhèn）輸出等接口（kǒu），提供靈活（huó）的測量配置，提供靈活的（de）測量（liàng）配置
5-外中頻輸入接口，脈衝輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接（jiē）口
7-自動測試接口，觸發輸入/輸出接口，噪聲源電源接口
可拖動（dòng）左右查看列表全（quán）部
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型號（hào） |
重量 |
功耗 |
溫度範圍 |
掃描模式 |
掃描駐留時（shí）間 |
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