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網絡分析儀
3674係列矢（shǐ）量網絡分析儀
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技術文（wén）檔（dàng）
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配置選件
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獲取報價
頻率範圍
500Hz～110GHz
諧波（bō）抑（yì）製
-60dBc@20GHz
係統動態範（fàn）圍
131dB@20GHz
係統跡（jì）線噪聲（IFBW:1kHz）
0.002dB@10GHz
反射跟蹤
±0.01dB@10GHz
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產品（pǐn）綜述（shù）
Ceyear 3674係列矢量網絡分析儀是技術創新的巔峰之作，可（kě）以輕鬆應對半導體芯片測試、材（cái）料測試、天線測試（shì）、高速線纜測試、微波部組件測試（shì）等帶來（lái）的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈（líng）活的硬件配置和豐富的軟件功（gōng）能相輔（fǔ）相成，隻需一次（cì）連接即可完成多種測量任務。創新的人（rén）機交互（hù）設計可幫助您快（kuài）速（sù）便捷（jié）地完成所需的測量設置，超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。
功能特點
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脈衝S參（cān）數測量
內置4路脈衝發（fā）生器，用於內部源調製、中頻門控製，並從後麵板輸出。每（měi）路脈衝（chōng）發生器的脈寬和延時獨立可設。
源調製來源包括後麵板輸入、內部脈衝發生器和常開、常閉等多種狀態，既可利用外部脈衝對矢量網絡分析儀的源進行調製，也可以使其（qí）處於連續波狀態，通過觸發同步模式進（jìn）行測量，為T/R組件、天線收發模塊等測試提供有力支撐。
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混頻器/變頻器標量測量分析
提供完善的混頻器/變（biàn）頻器特性設置，支（zhī）持雙階本振（zhèn）、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃（sǎo）描類型；通（tōng）過簡單設置可自（zì）動完成複雜混頻器RF、雙（shuāng）LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口（kǒu）功率、衰減、功率掃特性設置等。
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混頻器/變（biàn）頻器矢量測量分析（xī）
提供完整的混頻器/變頻器（qì）幅度響應、絕對相位（wèi）及絕對時延響應測（cè）量能力。校準過程中引入雙混頻器（qì）實現參考通路變頻（pín）與校準通路的變頻。引入的雙混頻器（qì）要求與被測（cè）件的變頻特性一致，且校準混頻器要求變（biàn）頻特（tè）性互易。
單次連接即可完成混頻（pín）器/變頻器複數特性測量，幅度和相位測量精度高。
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增益壓縮測量
增益壓縮測量（liàng）功能能夠通（tōng）過（guò）一次連接、一（yī）次校準完成有源器件在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓（yā）縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入（rù）匹（pǐ）配等壓（yā）縮參數測量。
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增益壓縮掃描三維圖繪製
提供三（sān）維視圖功能，更好地展示被測件在（zài）激勵狀態下的工作性能，另外還可以展示頻率切麵和功（gōng）率切（qiē）麵，可以直觀展現被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。
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噪聲係數測量
一次連接，可同時（shí）測試S參數、噪聲係數、噪（zào）聲（shēng）參數、增益壓縮和變頻增益等多種參數。基於冷源噪聲係數測試方法，可（kě）進（jìn）行精確的噪聲係數和噪（zào）聲參數測試。通過構建先進的（de）噪聲相關矩陣模型，結（jié）合矢量網絡分析儀精密的（de）S參數校準，適用於較小噪聲係數被測件的精確測試。測量動態範圍最大可達55dB，適用於較大增益被測件的測試。
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頻譜測量分析
矢量網絡分（fèn）析儀的每個（gè）端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可（kě）在小的分辨率帶寬下快速地定位被（bèi）測件雜散譜和諧波的狀態。
針對有源器件的測試，頻譜測（cè）量功能可提供更多的（de）測量參數（shù），單台（tái）儀器通過單次連接（jiē）可實現（xiàn）常規（guī）的S參（cān）數測試、雜散和（hé）諧波（bō）的定位測量；完備的比值和絕對測量誤差修正技術可提供更（gèng）準確的（de）測量（liàng）結果。
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信號完（wán）整性測量分析
具備強大的信號完整性測（cè）量分（fèn）析能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視（shì）圖同時完成時域和頻域測試分析，可以精（jīng）準測試傳輸線上（shàng）阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠端（duān）串擾（rǎo）測試，用（yòng）於（yú）測試多條傳輸線之間相互（hù）影響的程度。
高級（jí）時域分析選件具備基於網絡參數的虛擬眼圖生（shēng）成及分析功（gōng）能。根據不同的高速數字通信標準，高（gāo）級時域分析選件可以使用（yòng）預先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。
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總諧波（bō）失真（THD）測量分析
寬頻帶測試，可用於真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數的分析，簡化差分器件的諧波性能測試複雜度。
單次校準同時完成多通道的誤（wù）差修正，設置和測量參數的編輯可通過XML文件的方式（shì）進行，一鍵實現參（cān）數導入。
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自動夾（jiá）具移除
對於非標準接頭（tóu）器件測試，如封裝微波器件、在（zài）片器件等，此類器件無法與矢量網絡分析儀直（zhí）接（jiē）相連。通（tōng）常使用夾具將被測件連接（jiē）到矢量網（wǎng）絡（luò）分析（xī）儀上，但（dàn）同時（shí）夾（jiá）具也引入（rù）了測量誤差。自動夾具移除功能（néng）可以進行夾具（jù）參數的提取、存儲（chǔ）以及（jí）夾具去嵌入，最終獲得被（bèi）測（cè）件的真實參數。
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極致的用戶體驗（yàn）
界麵簡潔直觀，便於（yú）操（cāo）作（zuò），提高測試效（xiào）率
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外設接口（kǒu）豐富，靈活實用（yòng）
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源（yuán）輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活（huó）的測量配置，提供靈活的（de）測量配置
5-外中頻輸入接口，脈衝輸（shū）入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動測試接口（kǒu），觸發輸入/輸出接口，噪聲源電源接口
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掃描駐留（liú）時間 |
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