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高(gāo)速光器件測試
技術文檔(dàng)
配置(zhì)選件(jiàn)
獲取報(bào)價
調製(zhì)頻率範圍覆(fù)蓋: 10MHz~110GHz
單端光器件測試
針對電光調製器、直接調(diào)製激(jī)光器等電光器件的S11參數和S21參數測試,利用多窗(chuāng)口顯示可快速獲取(qǔ)測試對象的各頻(pín)點反射和傳輸特性;針對光電探測器、ROSA、TIA集(jí)成組件等光電(diàn)器件的S22參數和S21參數測試,利用光標功能可快速分析3dB帶寬,評估器件的(de)頻響(xiǎng)特性;針對光纖濾波器(qì)等光光器(qì)件的S21參數測試,可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

幅頻特性測試
利用儀(yí)器提供的多種顯(xiǎn)示模(mó)式,可實現相位、群時延(yán)等信息的顯示,可(kě)快速實現相頻特性等指標的測量。

相頻特(tè)性測試
平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型,實現平衡光發射或光接(jiē)收器件(jiàn)對差分增益和共模抑製參數的測試需求,更加貼合現有和未(wèi)來高速光纖通信(xìn)領域中多端口參數的測量場合。

光芯片在片測試
6433P光波元件分析儀搭配探(tàn)針台及高頻(pín)探針,可(kě)實現電光(guāng)/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。

自動化測試
6433P光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集,方便用戶進行遠程控製。通過網(wǎng)口,隻需完(wán)成設備的互聯,發送命令即(jí)可實現一體化的自動測試方案,方便(biàn)用戶將光波元件分析儀與溫控(kòng)、數字源表及被測件等共同搭建光(guāng)芯片測試係統。

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6433P 光波元件(jiàn)分析儀
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