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產品綜述
6433P光波元件（jiàn）分析儀是麵向高速電光器件、光電器件及光光器件調製特性測試（shì）的（de）儀器，頻率範圍覆蓋10MHz~110GHz，集成（chéng）電電測試、電光測試、光電測試及光光測試（shì）4種測試模式，具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用於（yú）高速電光器件（電（diàn）光強度調製器、直接調製激光器、光發射組（zǔ）件）、光電器件（探測（cè）器、光發射組件、探（tàn）測器芯片）及光光器件（光衰減器（qì）、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測（cè）試（shì）。
功能特點
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主要特（tè）點
10MHz~110GHz 寬頻（pín）帶同軸覆蓋；
最小頻率分辨率1Hz；
測試功能豐富，具（jù）備傳輸、反射等多種參數測試功能；
一體化多功能測（cè）試界麵（miàn）；
向導式校（xiào）準及一鍵式快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分（fèn）析；
自動夾具移除，快速獲取探針（zhēn）數據；具（jù）有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集（jí），可實現自動測試
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10MHz~110GHz 寬頻帶同軸（zhóu）覆蓋
6433P光波元件（jiàn）分析（xī）儀調製頻率（lǜ）最高可達110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實現高速寬（kuān）頻帶光器件及光芯（xīn）片調製特性測試。
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一體化多功能測試向導界麵
6433P光波元件分析儀具（jù）備電電（diàn）、電光、光電、光光（guāng）四種（zhǒng）測量模式，功能模式之間可任意切（qiē）換，可滿足（zú）光器件的S參數、阻抗、時（shí）域等參數測量需求。一體化多功能界麵方便用（yòng）戶快速完成測量模式、光波參數、光路去（qù）嵌入參數、射頻去嵌（qiàn）入等參數的設置。
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向導式校準及一鍵式測試
6433P光波（bō）元件分（fèn）析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準（zhǔn）時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件（jiàn）準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案，利用核心算法，實現電光/光電（diàn）/光光器件一鍵（jiàn）式寬帶快速掃頻（pín）測（cè）試。
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多窗（chuāng）口快速顯示及分析
6433P光波（bō）元件分析（xī）儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最多可（kě）同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇（zé）操作，快捷高效（xiào），便（biàn）於用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀（yí）操作體驗。
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自動夾具移除（chú），快速獲取探（tàn）針數據
6433P光波元件分析儀利用自動夾具移除功（gōng）能可（kě）快（kuài）速解決光芯（xīn）片S參（cān）數（shù）測試難題。測試時，將高（gāo）頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數，利用信號流圖提（tí）取頻域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高（gāo）精度S參數測試（shì）。
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型號（hào） |
調製頻率（lǜ）範圍 |
工作波長 |
光功（gōng）率測試範圍（wéi） |
動態範圍 |
對比 |
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