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光譜(pǔ)掃(sǎo)描範(fàn)圍: 350nm~1200nm
最(zuì)小光譜分(fèn)辨率: 20pm
6362C是一款高分辨、大動態高速高性能光譜分析儀,適用(yòng)於350nm~1200nm光譜範圍的DWDM等光係統測試;LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件測試;光纖等光無源器件測試。
20pm最小光譜分(fèn)辨率
350nm~1200nm光譜掃描範圍
60dB大動態範(fàn)圍
支持空間光輸入
強大的多應用光譜數(shù)據分析功能
12.1英寸觸控顯示、全中文(wén)操作
6362C光譜分析儀支持不同光譜分辨率(lǜ)的設置,多種光譜(pǔ)分辨率設置靈活切換,最小光譜分辨率優於(yú)20pm。
6362C光譜分析儀采用擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的光譜自適應峰值檢索算法,峰值檢索準確度(dù)高,自適應性和魯棒(bàng)性(xìng)強,且運算(suàn)速度快。
6362C光譜分析儀具備(bèi)多場景光譜分析功能,針對DFB-LD等單縱模激光光源(yuán),儀器提供閾值分(fèn)析和邊模抑製比分(fèn)析兩種分析方法(fǎ),有(yǒu)效準確的評(píng)估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑製比。
針對FP-LD等多(duō)縱(zòng)模激光光源,6362C光譜(pǔ)分析儀提供ndB損耗分(fèn)析、包絡分(fèn)析和均方根(gēn)分析三種分析方法,多維度全麵評估多縱模待測光源的中心波長和光譜帶寬。

ndB損耗法測試中心波長和(hé)光譜(pǔ)帶寬

包絡分析(xī)法(fǎ)測試中心波長和光譜帶寬

均方根分析法測試中心波長(zhǎng)和光譜帶(dài)寬
6362C光譜分析(xī)儀可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模(mó)塊等各(gè)類型激光器進行一鍵測試與分析(xī),實現所有測試項目批處理。儀器還集成了光纖偏振(zhèn)模色(sè)散測量應用、波分複用應用等光譜(pǔ)應用功能。
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型號 |
調製頻率範圍 |
工作波長 |
光功率測試範圍 |
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6362C 光(guāng)譜(pǔ)分析儀
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